Test de systèmes électronique

Slides:



Advertisements
Présentations similaires
Yassine Lakhnech Prof. UJF Verimag
Advertisements

Active Directory Windows 2003 Server
Analyse et Programmation Orientées Objets
Placement de Motifs Architecture Application Contraintes: - Charge
La Gestion de la Configuration
2002 Exploratoire ASTRÉE : Analyse Statique de logiciels Temps-RÉel Embarqués 1)Le problème considéré est de démontrer statiquement (à la compilation)
Test de Systèmes Intégrés Digitaux et Mixtes
LIRMM 1 Journée Deuxièmes années Département Microélectronique LIRMM.
Tolérance aux défaillances de logiciel
Validation des Systèmes Informatisés Industriels
© Tous droits réservés. Toute reproduction totale ou partielle sur quelque support que ce soit ou utilisation du contenu de ce document est interdite.
2.Les différentes architectures (Louis)
Processus de validation basée sur la notion de propriété
Flow de conception (4h)-demo
Présentation d’un design de carte vidéo
Active Directory Windows 2003 Server
La commande numérique des actionneurs électrique
Concepts de base : la Classe Pour faire une comparaison simple, une classe serait a priori, une structure C avec des variables et des fonctions.
ELE6306 Tests de Systèmes Électroniques
Serveurs Partagés Oracle
Plan de l’exposé Introduction Revue de littérature Méthodologie
Informatique temps réel et réseaux de terrain – ELEC365
Méthodologies de test pour un FPGA
Automatisation des déplacement d’un véhicule
Introduction Objectifs du cours Évaluation Références
Présentation du mémoire
Test dun Réseau sur puce générique (generic Network on Chip) Présenté par: David Bafumba-Lokilo & Silvio Fornera.
ELE6306 : Test de systèmes électroniques Projet de cours Chaîne de scan unique: Reconfiguration = Optimisation Louis-Martin Côté Professeur : A. Khouas.
Plan Introduction Architecture des FPGA Modèles des fautes
Plan Introduction DFT d’un additionneur asynchrone
Test de l’intégrité des signaux numériques des interconnexions des SoC
Plan Problématique Fautes de délai Techniques de test « at-speed »
Cours #7 Vérification d’un modèle VHDL
Etienne Craye – Jean-Marc Faure INCOS GDR MACS INCOS INgénierie de la COmmande et de la Supervision des SED -DES Control and Monitoring Engineering Fusion.
Par Bernard Maudhuit. On peut tout sauvegarder et on doit tout sauvegarder sur des éléments physiques externes à lordinateur CD SVCD DVD et double couche.
NORMALISATION DES LANGAGES DE PROGRAMMATION des Automates Programmables Industriels CEI Jean-Jacques DUMÉRY -1-
Caractéristiques Architecture Programmation n 32 Entrées / sorties configurables n Fréquence maxi : 110 MHz n Alimentation unique 5V n Programmable sur.
NORMALISATION DES LANGAGES DE PROGRAMMATION des Automates Programmables Industriels CEI
Présentation de l’automate
Laurent Gross # 1 Contrôle, Acquisition de Données et Gestion des Erreurs du Tracker de CMS CMS France mars 2006 G. BaulieuIPNL – Lyon F. Drouhin.
Un capteur de vision CMOS pour la sécurité automobile.
INF3500 : Conception et implémentation de systèmes numériques Pierre Langlois Implémentation d’un.
Supports de formation au SQ Unifié
Test de l’unité d’exécution d’une instruction par application d’instructions de test Projet du cours ELE6306 : Tests des systèmes électroniques. Nicolas.
Power PC embarqués et accélérateurs matériels pour des cibles de type FPGA Julien Dubois.
INF8505: processeurs embarqués configurables
Marché Client Produit Service MOA MOE Expression du besoin Sp é
INF3500 : Conception et implémentation de systèmes numériques Pierre Langlois Banc d’essai pour un.
Test et Testabilité des Circuits Intégrés Digitaux
Implantation de processeurs dans les FPGA et ASIC
Chapitre 5 Test de circuits séquentiels
Réseaux pré-diffusés programmables par l’utilisateur: FPGA
Steven Derrien Équipe R2D2
François CARCENAC,Frédéric BONIOL ONERA-DTIM Zoubir MAMMERI IRIT
Microcontrôleurs PIC. 1ère séance Présentation du PIC16F876 Outils de programmation du PIC Le langage C Exemples d’applications simples 2ème séance Présentation.
Expériences : contraintes holonomes Mécanique, cours 25.exp Jean-Philippe Ansermet.
Présentation AICHA REVEL INGENIEUR D’ÉTUDE STERIA DEPARTEMENT TRD
1 Université Henri Poincaré, Nancy 1 La préemption appliquée aux FPGAs Soutenance de rapport bibliographique de DEA Faculté des Sciences Vandoeuvre-lès-Nancy.
Les FPGA « Field Programmable Gate Array »
Traitement d’obsolescence TVM 430 Emulation logicielle de 3 XPC
SUNDANCE Multiprocessor Technology Ltd. Yann CLIN Stage effectué de février à juin Superviseur technique: Jocelyn SEROT Superviseur industriel: Emmanuel.
ELE6306 : Test de systèmes électroniques Adaptation d’une interface de communication pour implants en vue du test Laurent Aubray, Dominique Pâquet-Ferron.
STATISTIQUE INFERENTIELLE LES TESTS STATISTIQUES
Compression de données de test : Réduction du nombre de broches et gain en temps de test Julien DALMASSO, Marie-Lise FLOTTES, Bruno ROUZEYRE {dalmasso,
ELE6306 : Test de systèmes électroniques Test intégré et Modèle de faute de délai Etudiante : S. BENCHIKH Professeur : A. Khouas Département de génie électrique.
Alan Gabriel GOLF Orsay, avril Célébration des 10 ans de SOHO “Global oscillations at Low Frequencies” (GOLF) Alan Gabriel Instrument réalisé en.
Initiative pour une méthode publique  +33 (0) Référence Version.
L3 Instrumentation Pétrolière S6
ARCHITECTURE MATERIELLE D’UN SYSTEME A MICROPROCESSEUR
Instants magiques Automatique.
Transcription de la présentation:

Test de systèmes électronique Test en ligne ELE 6306 Test de systèmes électronique Cyprien Dumortier Jean-Marc DeHaene

Plan Principes du test en ligne Test en ligne des FPGA Paramètres de conception Test à vérification automatique (Self-Checking) BIST en ligne Test en ligne des FPGA Structure interne d’un FPGA Problématique du test des FPGAs Méthode de BIST en ligne : « Roving STARs »

A – Principes du test en ligne 1 – Paramètres de conception

1 – Paramètres de conception Types d’erreurs : Permanents Intermittents Transitoires

1 – Paramètres de conception du test en ligne : Taux de couverture des erreurs Latence des erreurs Redondance en espace Redondance en temps

1 – Paramètres de conception Les types de tests en ligne Test en ligne Non Concurrent Concurrent CPU I/O Mémoire Logique Watchdog Donnée

2 – Test à vérification automatique Self-Checking A – Principes du test en ligne 2 – Test à vérification automatique Self-Checking

2 – Test à vérification automatique Self-checking Deux Techniques : Duplication Inversion

2 – Test à vérification automatique Self-checking A - Duplication : X Augmented CUT CUT CUT' Comparateur Y Erreur

2 – Test à vérification automatique Self-checking B - Inversion : Augmented CUT X CUT Y INV (CUT) Comparateur Erreur

2 – Test à vérification automatique Self-checking C - Comparaison : Version Ressources Vitesses Pénalité Slices Buffer 3 états Cycle Fréquence Max Surface Addition. Original 137 400 7 50 MHz - Duplication 166 706 9 35 MHz 21.2 % 28.6 % Inversion 1 158 754 5 MHz 15.3 % Inversion 2 161 770 13 17.5 % 85.7 %

3 – Built-In Self-Test en ligne A – Principes du test en ligne 3 – Built-In Self-Test en ligne

3 – BIST en ligne UBIST Implantation : Circuit sous test CUT X Y Mux S Erreur RM ATPG Contrôleur

3 – BIST en ligne UBIST Fonctionnement : P P n clocks m clocks Fct. normal Test Fct. normal Test Temps

B – Test en ligne des FPGAs 1- Structure interne d’un FPGA 2- Problématique du test des FPGAs Méthodes de test 3- Méthode de BIST en ligne : "Roving STARs" Environnement de test Test des PLBs Test des interconnexions Rotation des aires de test

B – Test en ligne des FPGAs 1- Structure interne d’un FPGA 2- Problématique du test des FPGAs Méthodes de test 3- Méthode de BIST en ligne : "Roving STARs" Environnement de test Test des PLBs Tests des interconnections Rotation des aires de test

1- Structure interne d’un FPGA Blocks logiques programmables (PLB - CLB) Architecture du PLB : Configurations multiples

1- Structure interne d’un FPGA Blocks logiques programmables (PLB -CLB ) Ressources de routage Fils locaux ou globaux Points d’interconnexion configurables (CIP)

B – Test en ligne des FPGAs 1- Structure interne d’un FPGA 2- Problématique du test des FPGAs Méthodes de test 3- Méthode de BIST en ligne : "Roving STARs" Environnement de test Test des PLBs Tests des interconnections Rotation des aires de test

2- Problématique du test des FPGAs Tester PLBs – interconnections – mémoire de programmation FPGA m×m : 8m ports E/S et m2 PLBs  manque de ports pour commander et observer les PLBs Temps de reconfiguration > temps de test (temps d’application des vecteurs)  minimiser les reconfigurations

Le test des FPGAs

B – Test en ligne des FPGAs 1- Structure interne d’un FPGA 2- Problématique du test des FPGAs Méthodes de test 3- Méthode de BIST en ligne : "Roving STARs" Environnement de test Test des PLBs Tests des interconnections Rotation des aires de test

3- Le BIST en ligne : "Roving STARs" Principe du « Roving STARs » : STAR = Self Testing ARea Découpage du FPGA en 2 zones : Une zone de test (STAR) Une zone de travail Deux STARs : Horizontale – Verticale + diagnostique + test des interconnections globales - surcoût matériel Test assuré par un balayage des STARs

Environnement du "Roving STARs" Périphériques de test : Microprocesseur : CTRE (Contrôleur de Test et de REconfiguration) Mémoire de configurations Spécificité du FPGA : Boundary Scan (JTAG) RTR (Reconfiguration en Temps Réel)

B – Test en ligne des FPGAs 1- Structure interne d’un FPGA 2- Problématique du test des FPGAs Méthodes de test 3- Méthode de BIST en ligne : "Roving STARs" Environnement de test Test des PLBs Tests des interconnections Rotation des aires de test

"Roving STARs" : test des PLBs 1 STAR active à la fois Décomposition en structures de BIST indépendantes : BISTERs BISTER : TPG : Exhaustif ORA : Assure la comparaison et capture toutes différences entre les sorties de deux BUTs

"ROVING STARs" : test des PLBs Rotation des fonctions au sein du BISTER : Validation de tous les PLBs du BISTER Détection de fautes multiples

B – Test en ligne des FPGAs 1- Structure interne d’un FPGA 2- Problématique du test des FPGAs Méthodes de test 3- Méthode de BIST en ligne : "Roving STARs" Environnement de test Test des PLBs Tests des interconnections Rotation des aires de test

"Roving STARs" : test des interconnections Comme pour les PLBs, basé sur un BIST : Configurations multiples (5) pour assurer le test de toutes les interconnexions

B – Test en ligne des FPGAs 1- Structure interne d’un FPGA 2- Problématique du test des FPGAs Méthodes de test 3- Méthode de BIST en ligne : "Roving STARs" Environnement de test Test des PLBs Tests des interconnections Rotation des aires de test

Mécanisme de déplacement des STARs 1- Arrêt de l’horloge système (arrêt du FPGA) 2- Copie de l’état de D et E (si ils sont séquentiels) 3- Configurer B et C comme D et E (fonction et interconnections) 4- Redémarrer l’horloge système 5- Configurer les BISTERs du nouveau STAR (commencer les tests)

CONCLUSION Techniques de base du test en ligne : Self-Checking : duplication – inversion BIST : intercalage Test en ligne des FPGA "Roving STAR" = basée sur des zones de test locales Test de l’ensemble des ressources Pas de supposition de zone sans fautes Utilisation des résultats de test Diagnostique Tolérance aux fautes

Test de systèmes électronique Test en ligne ELE 6306 Test de systèmes électronique Cyprien Dumortier Jean-Marc DeHaene