Ce qu'il ne faut pas faire !

Présentation au sujet: "Ce qu'il ne faut pas faire !"— Transcription de la présentation:

1 Ce qu'il ne faut pas faire !

2 1 – Dans le corps du texte

3 Excès de citations : exemple d’un dossier Référence de tension à base de MEMS

4 Insertion d’images, graphiques, etc.
Exemple d’un dossier Matériaux soumis aux conditions extrêmes [exemples des sous-marins]

5 Insertion d’images, graphiques, etc.
Exemple d’un dossier Matériaux soumis aux conditions extrêmes [exemples des sous-marins]

6 Attention danger : le plagiat !
Plagier c'est : - s'approprier le travail créatif de quelqu'un d'autre et de le présenter comme sien ; - s'accaparer des extraits de texte, des images, des données, etc. provenant de sources externes et les intégrer à son propre travail sans en mentionner la provenance ; - résumer l'idée originale d'un auteur en l'exprimant dans ses propres mots, mais en omettant d'en mentionner la source. Plagier est non seulement un acte malhonnête, mais aussi une infraction qui peut entraîner des sanctions disciplinaires à l’université et judiciaires. Source : Université de Laval, © 2000 Service des bibliothèques de l'UQAMMise à jour le , disponible sur (consulté le 25/01/2017)

7 Exemple d’un dossier : PROJET INTIATION RECHERCHE SHAZAM :
attention à la pertinence des titres voir la 3e partie...

8 Exemple d’un dossier : PROJET INTIATION RECHERCHE SHAZAM

9 Exemple d’un dossier : PROJET INTIATION RECHERCHE SHAZAM
- Article plagié dans son intégralité = Zéro pour l’étudiante concernée !

10 Bibliographie terminale

11 Absence de numérotation ET non respect des normes
Correction [1] – Rivoal J. C. and Frétigny C., « Microscope à force atomique (AFM) », Techniques de l'ingénieur, 18 p., jui [En ligne]. Disponible sur : URL, [consulté le 02/10/2017]. [2] – Herrier C., « Fonctionnalisation et structuration par microscopie à force atomique (AFM) de surfaces de silicium hydrogéné », thèse de doctorat, Sciences de la matière, Université Rennes 1, France, 2011. [3] – Lang K. M. et al., « Conducting atomic force microscopy for nanoscale tunnel barrier characterization », Review of Scientific Instruments, vol. 75, n° 8, pp – 1731, août, [En ligne]. Disponible sur : URL, [consulté le 02/10/2017]. [4] - Binnig G., Quate C. F., and Gerber Ch., « Atomic Force Microscope », Physical review letters, vol. 56, n° 9, mar [En ligne]. Disponible sur : URL, [consulté le 02/10/2017].

12 Bibliographie incompréhensible et faiblesse des sources
Bibliographie incompréhensible et faiblesse des sources. Exemple d’un dossier sur les Ecrans LCD 3 D

13 Dans le corps du texte la référence n° 5 renvoie à la définition de la stéréoscopie… trouvée sur le site internet des magasins Darty !!!

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