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Test de systèmes électronique
Test en ligne ELE 6306 Test de systèmes électronique Cyprien Dumortier Jean-Marc DeHaene
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Plan Principes du test en ligne Test en ligne des FPGA
Paramètres de conception Test à vérification automatique (Self-Checking) BIST en ligne Test en ligne des FPGA Structure interne d’un FPGA Problématique du test des FPGAs Méthode de BIST en ligne : « Roving STARs »
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A – Principes du test en ligne
1 – Paramètres de conception
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1 – Paramètres de conception
Types d’erreurs : Permanents Intermittents Transitoires
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1 – Paramètres de conception
du test en ligne : Taux de couverture des erreurs Latence des erreurs Redondance en espace Redondance en temps
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1 – Paramètres de conception
Les types de tests en ligne Test en ligne Non Concurrent Concurrent CPU I/O Mémoire Logique Watchdog Donnée
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2 – Test à vérification automatique Self-Checking
A – Principes du test en ligne 2 – Test à vérification automatique Self-Checking
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2 – Test à vérification automatique Self-checking
Deux Techniques : Duplication Inversion
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2 – Test à vérification automatique Self-checking
A - Duplication : X Augmented CUT CUT CUT' Comparateur Y Erreur
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2 – Test à vérification automatique Self-checking
B - Inversion : Augmented CUT X CUT Y INV (CUT) Comparateur Erreur
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2 – Test à vérification automatique Self-checking
C - Comparaison : Version Ressources Vitesses Pénalité Slices Buffer 3 états Cycle Fréquence Max Surface Addition. Original 137 400 7 50 MHz - Duplication 166 706 9 35 MHz 21.2 % 28.6 % Inversion 1 158 754 5 MHz 15.3 % Inversion 2 161 770 13 17.5 % 85.7 %
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3 – Built-In Self-Test en ligne
A – Principes du test en ligne 3 – Built-In Self-Test en ligne
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3 – BIST en ligne UBIST Implantation : Circuit sous test CUT X Y Mux S
Erreur RM ATPG Contrôleur
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3 – BIST en ligne UBIST Fonctionnement : P P n clocks m clocks
Fct. normal Test Fct. normal Test Temps
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B – Test en ligne des FPGAs
1- Structure interne d’un FPGA 2- Problématique du test des FPGAs Méthodes de test 3- Méthode de BIST en ligne : "Roving STARs" Environnement de test Test des PLBs Test des interconnexions Rotation des aires de test
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B – Test en ligne des FPGAs
1- Structure interne d’un FPGA 2- Problématique du test des FPGAs Méthodes de test 3- Méthode de BIST en ligne : "Roving STARs" Environnement de test Test des PLBs Tests des interconnections Rotation des aires de test
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1- Structure interne d’un FPGA
Blocks logiques programmables (PLB - CLB) Architecture du PLB : Configurations multiples
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1- Structure interne d’un FPGA
Blocks logiques programmables (PLB -CLB ) Ressources de routage Fils locaux ou globaux Points d’interconnexion configurables (CIP)
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B – Test en ligne des FPGAs
1- Structure interne d’un FPGA 2- Problématique du test des FPGAs Méthodes de test 3- Méthode de BIST en ligne : "Roving STARs" Environnement de test Test des PLBs Tests des interconnections Rotation des aires de test
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2- Problématique du test des FPGAs
Tester PLBs – interconnections – mémoire de programmation FPGA m×m : 8m ports E/S et m2 PLBs manque de ports pour commander et observer les PLBs Temps de reconfiguration > temps de test (temps d’application des vecteurs) minimiser les reconfigurations
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Le test des FPGAs
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B – Test en ligne des FPGAs
1- Structure interne d’un FPGA 2- Problématique du test des FPGAs Méthodes de test 3- Méthode de BIST en ligne : "Roving STARs" Environnement de test Test des PLBs Tests des interconnections Rotation des aires de test
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3- Le BIST en ligne : "Roving STARs"
Principe du « Roving STARs » : STAR = Self Testing ARea Découpage du FPGA en 2 zones : Une zone de test (STAR) Une zone de travail Deux STARs : Horizontale – Verticale + diagnostique + test des interconnections globales - surcoût matériel Test assuré par un balayage des STARs
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Environnement du "Roving STARs"
Périphériques de test : Microprocesseur : CTRE (Contrôleur de Test et de REconfiguration) Mémoire de configurations Spécificité du FPGA : Boundary Scan (JTAG) RTR (Reconfiguration en Temps Réel)
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B – Test en ligne des FPGAs
1- Structure interne d’un FPGA 2- Problématique du test des FPGAs Méthodes de test 3- Méthode de BIST en ligne : "Roving STARs" Environnement de test Test des PLBs Tests des interconnections Rotation des aires de test
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"Roving STARs" : test des PLBs
1 STAR active à la fois Décomposition en structures de BIST indépendantes : BISTERs BISTER : TPG : Exhaustif ORA : Assure la comparaison et capture toutes différences entre les sorties de deux BUTs
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"ROVING STARs" : test des PLBs
Rotation des fonctions au sein du BISTER : Validation de tous les PLBs du BISTER Détection de fautes multiples
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B – Test en ligne des FPGAs
1- Structure interne d’un FPGA 2- Problématique du test des FPGAs Méthodes de test 3- Méthode de BIST en ligne : "Roving STARs" Environnement de test Test des PLBs Tests des interconnections Rotation des aires de test
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"Roving STARs" : test des interconnections
Comme pour les PLBs, basé sur un BIST : Configurations multiples (5) pour assurer le test de toutes les interconnexions
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B – Test en ligne des FPGAs
1- Structure interne d’un FPGA 2- Problématique du test des FPGAs Méthodes de test 3- Méthode de BIST en ligne : "Roving STARs" Environnement de test Test des PLBs Tests des interconnections Rotation des aires de test
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Mécanisme de déplacement des STARs
1- Arrêt de l’horloge système (arrêt du FPGA) 2- Copie de l’état de D et E (si ils sont séquentiels) 3- Configurer B et C comme D et E (fonction et interconnections) 4- Redémarrer l’horloge système 5- Configurer les BISTERs du nouveau STAR (commencer les tests)
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CONCLUSION Techniques de base du test en ligne :
Self-Checking : duplication – inversion BIST : intercalage Test en ligne des FPGA "Roving STAR" = basée sur des zones de test locales Test de l’ensemble des ressources Pas de supposition de zone sans fautes Utilisation des résultats de test Diagnostique Tolérance aux fautes
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Test de systèmes électronique
Test en ligne ELE 6306 Test de systèmes électronique Cyprien Dumortier Jean-Marc DeHaene
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