Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique Richard PERDRIAU*/**

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1 Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique Richard PERDRIAU*/** Mohamed RAMDANI* Jean-Luc LEVANT*** Anne-Marie TRULLEMANS** *École Supérieure d’Électronique de l’Ouest - Angers **DICE – Université Catholique de Louvain – Louvain-la-Neuve ***ATMEL - Nantes

2 Présentation Objectif Méthodologie globale Simulation de la SRAM
Pourquoi modéliser l’activité interne d’un µC ? Pourquoi VHDL-AMS ? Méthodologie globale Principe Validation Simulation de la SRAM Extraction Modélisation Résultats Conclusion Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

3 Objectif Caractérisation CEM d’un CI : modèle ICEM
Eléments passifs (réseau d’alimentation) Générateur de courant interne Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

4 Objectif Caractérisation CEM d’un CI : modèle ICEM
Eléments passifs Ne dépendent pas de l’activité interne (sauf capacités dynamiques MOS dans Cb) Extraits par mesures (publications avec J. L. Levant, M. Ramdani) Générateur de courant interne Dépend de l’activité Pire cas : difficile à modéliser mais très utile La simulation doit être rapide mais pas nécessairement précise (20 % suffit) -> extraction du générateur équivalent Cas concret : microcontrôleur 8 bits (avec SRAM) Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

5 Objectif Comment obtenir cette activité ? -> par mesures
Une fois le circuit fondu : moins utile Comment trouver le pire cas ? -> par simulation Avant la fonderie : beaucoup plus intéressant Niveau structurel (transistors) Outils de type SPICE Très lente (~ 1000 heures) Niveau comportemental Moins précise mais beaucoup plus rapide (~ 10 minutes) Utilisation d’un langage de description Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

6 Objectif Quel langage ? VHDL-AMS Standard (IEEE ) Compatibilité ascendante avec les modèles standard VITAL (VHDL Initiative Towards ASIC Libraries) pour les mémoires Compatibilité ascendante avec les modèles standard VHDL du cœur Permet d’ajuster les modèles à partir des simulations structurelles Inclus dans la proposition de norme ICEM -> méthodologie de simulation pour la modélisation VHDL-AMS Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

7 Méthodologie envisagée
Environnement de simulation Microcontrôleur Cœur 8051 ATMEL (~ portes) EEPROM programme 32 Ko (~ portes) SRAM données 1,2 Ko (~ portes) Outils ADVance-MS Mach (Mentor Graphics) v2.0 ADVance-MS : compilateur/simulateur VHDL-AMS Mach : simulateur structurel rapide (10~12x plus rapide qu’Eldo) Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

8 Méthodologie : 3 étapes Extraction du courant : cœur seul
Utilisation de modèles numériques de mémoires couplés à une netlist cœur au niveau transistor Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

9 Méthodologie : 3 étapes Extraction du courant : cœur seul
Courant consommé uniquement par le cœur Pourra inclure les éléments parasites RC après placement/routage Utilisation de modèles VITAL standard Convertisseurs A/N et N/A décrits en VHDL-AMS Possibilité de faire tourner du code machine : dépendances logiciel <-> consommation Comparaison avec les mesures en mode RESET (pas de mémoires impliquées) Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

10 Méthodologie : 3 étapes Extraction du courant : cœur/mémoires (1)
Utilisation de modèles VHDL-AMS des mémoires couplés au cœur au niveau transistor Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

11 Méthodologie : 3 étapes Extraction du courant : cœur et mémoires (1)
Première étape : modélisation comportementale de la consommation de courant des mémoires Sera évoquée ultérieurement Accélère la simulation d’un facteur 1000 ou plus Remarque : faible influence de l’EEPROM sur le courant Validée par simulation Permet de négliger sa consommation Deuxième étape : couplage avec le cœur Permet les comparaisons avec les mesures réelles en mode RUN Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

12 Méthodologie : 3 étapes Extraction du courant : cœur/mémoires (2)
Modèles VHDL/AMS du cœur et des mémoires Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

13 Méthodologie : 3 étapes Extraction du courant : cœur et mémoires (2)
Le plus difficile : modélisation comportementale du cœur Dépend du logiciel Etude de faisabilité encore à mener Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

14 Validation de la méthodologie
Etude du cœur en mode RESET <- Simulation Mesures Valeurs crête semblables mais temps de montée différents Méconnaissance de la capacité de découplage interne (résonance) Eléments RC parasites non inclus (arbre d’horloge) Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

15 Simulation de la SRAM Caractéristiques de la SRAM
1280 octets (~ portes) Technologie 0,35 µm 4 blocs de 80 rangées et 4 colonnes chacun Décodage d’adresses sur 7 bits 2 décodeurs 2 bits (Y et Z) simples 1 décodeur 3 bits X faisant partie du chemin critique Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

16 Simulation de la SRAM Principe de la simulation
Netlist au niveau transistor Testbench écrit en VHDL Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

17 Simulation de la SRAM Extraction par simulation structurelle
Deux impulsions par cycle : Décodeurs d’adresses Y et Z Amplitude : distance de Hamming entre les adresses Amplitude/temps de montée : temps de montée des signaux de contrôle Décodeur d’adresses X Plus complexe : plusieurs étages Cellules mémoire Forme fixe (en écriture) Amplitude interne : ~ cœur Ne présuppose pas de l’amplitude externe Cellules mémoire Décodeurs d’adresses Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

18 Simulation de la SRAM Modèle VHDL-AMS Modèle événementiel
Prise en compte séparée des décodeurs et des cellules mémoire Formes d’onde de type PWL Rapide ENTITY RAMGenerator IS GENERIC (Tr : real); PORT (ADD : IN std_logic_vector(…); DATA : IN std_logic_vector(…); ME, WEN : IN std_logic; TERMINAL Vdd, Vss : electrical); END ENTITY RAMGenerator; … PROCESS -- détermination des coefficients PWL pour les décodeurs (…d) END PROCESS; -- détermination des coefficients PWL pour les cellules mémoire (…m) -- Interpolation linéaire Ib == Istartd + deltaId*(now-Tstartd)/ (Tendd-Tstartd) + Istartm + deltaIm* (now-Tstartm)/(Tendm-Tstartm); BREAK ON Tstartd, Tstartm; Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

19 Simulation de la SRAM Résultats de simulation
Rapport des temps de simulation : environ 1000/1 Bonne précision sur les temps de montée Prise en compte des décodeurs d’adresses Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

20 Simulation de la SRAM Courant externe Méthode Filtrage du bruit
Modèle VHDL-AMS du courant interne + éléments passifs extraits par mesure Filtrage du bruit Corrélé par la mesure Comparaison entre accès Flash (code) uniquement et accès Flash + SRAM Différence de consommation avec accès SRAM : ~ 2 mA Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

21 Conclusion Proposition d’une méthodologie pour l’extraction du courant dynamique Du niveau transistor au modèle comportemental Utilisation de VHDL-AMS Accélération de la simulation (facteur > 1000) Inclusion dans le modèle ICEM Avenir Amélioration des modèles comportementaux SRAM Meilleure modélisation du décodeur X Prise en compte du mode lecture Inclusion des parasites RC dans les simulations cœur Proposition d’un modèle comportemental « simple » du cœur Normalisation des modèles comportementaux en courant : ICEM-IP Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03

22 Pour en savoir plus … Proposition de norme ICEM : IEC 62014-3
Voir site Web UTE ou INSA Toulouse Proceedings de la conférence EMCCompo 2002 Conférence EMCCompo 2004 à l’ESEO (31/03 et 01/04) Modélisation VHDL-AMS haut niveau de l’activité en courant des mémoires en vue de l'optimisation de la compatibilité électromagnétique - Richard PERDRIAU - FTFC'03