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Publié parEdith Goudreau Modifié depuis plus de 9 années
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1 Mesure du temps de vol d’un matériau Réalisation d’un programme Labview pour le contrôle d’instruments Jean-Charles Jacques Stage 4A, été 2007 Tuteur INSA : Julian Carrey Tuteur UNIS : Simon Henley
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2 L’Advanced Technologies Institute Les groupes de recherches : Nano-electronics centre (NEC) Photonics group Theory and advanced computation (TAC) Ion beam centre (IBC)
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3 Sujet et Objectifs du stage Sujet : mesure du photocourant d’un matériau excité par un faisceau laser pulsé Objectifs : Réaliser un programme Labview pour contrôler les instruments de l’expérience Mesurer le temps de vol du matériau
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4 Cellules photovoltaïques Génération de paires électrons-trous Séparation des paires électrons-trous Absorptions et pertes Rendement
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5 L’expérience
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6 Mesure du temps de vol (TOF) TOF = temps que met une charge pour se déplacer dans l’échantillon sous champs électrique v d = d / TOF v d =μ d.F Réduire le TOF pour augmenter l’absorption I = q v d / d
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7 Schéma de contrôle des intruments
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8 Les panneaux du programme
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9 TOF Sous-VI Données : Ymin Ymax Xo Sorties : Xmax TOF Calcul intermédiaire : V(Xmax) =(Ymax-Ymin)/e + Ymin
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10 Bruits et filtre passe bas Filtre passe bas de Bessel Connections entre le cryostat et l’oscilloscope Boîte métallique de protection reliée à la terre
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