Outils Boundary Scan (JTAG) Mutualisation ? Journées Electroniques IN2P Juin 2012 C.Oziol (IPNO), G.Perrot (LAPP), K.Tun-lanoë (IPNO)

La fonction du Boundary Scan Les outils utilisés à L’IN2P3 Résultats de l’enquête IN2P3 La mutualisation pourquoi, comment? Plan Juin 2012Journées Electroniques IN2P3 G.Perrot2

Le Boundary Scan Juin 2012Journées Electroniques IN2P3 G.Perrot3 Nouveau: Test liens rapides

Deux produits différents au sein de l’IN2P3 – JTAG Technologies utilisé conjointement par l’IPN et le CSNSM. (2008) – Goepel/ASTER utilisé par le LAPP. (2000) Les 2 outils ont globalement les mêmes fonctionnalités de test! Les outils BS à l’IN2P Juin 2012Journées Electroniques IN2P3 G.Perrot4

TESTWAY (ASTER) – Vérification des règles de conceptions sur la schématique Cadence (option). – Génération des fichiers pour Cascon à partir du routage. – Acheté initialement en 2000 pour la reconnaissance automatique des résistances de terminaison (série et parallèle) qui n’existait pas ailleurs. CASCON (GÖPEL) – Génération des tests Boundary Scan. – Application des tests sur la carte. – Identification des défauts sur la carte. QuadView (ASTER) – Visualisation interactive schéma, routage ou vue synthétique d’un net.(Cadence) – Visualisation sur schéma ou routage de la couverture de test. (Testway ou Cascon) – Visualisation sur schéma ou routage du déroulement du test en direct. (Cascon) – Visualisation sur schéma ou routage des net en erreur dans le test BS (Cascon) Outils au LAPP Juin 2012Journées Electroniques IN2P3 G.Perrot5

Analyse la netlist de Cadence (schématique). Identifie la chaîne BS, les composants BS et y associe les modèles BSDL correspondants. Génère des modèles à partir des informations disponibles (entrées-sorties) pour les autres composants. Permet d'introduire des modifications à la netlist. Vérifie la qualité de la chaîne BS (signaux connectés, présence de résistance de Bypass…) Identifie les tests de Cluster possibles. Génère les fichiers pour Cascon (Göpel) Testway Juin 2012Journées Electroniques IN2P3 G.Perrot6

Génère les tests. – Test d'infrastructure: vérifie la chaîne BS. – Tests d'interconnections: Stuck at 0 Stuck at 1 Counter tests – Tests de RAM, FIFOs, Clusters – Programmation de composants programmables, de Flash par BS. Exécute les tests. – Contrôleur branché sur un port USB du PC. Fournit un diagnostique détaillé. Cascon Juin 2012Journées Electroniques IN2P3 G.Perrot7

Interface avec Cadence schéma et routage, pdf labelisé, Testway. Intégration complète dans Cascon. 3 Types d’utilisation: – Cadence: Permet de visualiser interactivement un net dans le schéma et dans le routage. Permet de créer une vue synthétique (schéma) d’un net avec tous les composants connectés. – Avec Testway ou Cascon: Montre la couverture d’un test BS sur le schéma ou le routage. – Avec Cascon: En mode debugging, visualisation en ligne sur le schéma ou le routage des pins testées. A partir des nets en erreurs dans le test BS, visualisation interactive sur le schéma ou le routage des nets concernés. QuadView Juin 2012Journées Electroniques IN2P3 G.Perrot8

Interfaces (Testway, Cascon, QuadView) Juin 2012Journées Electroniques IN2P3 G.Perrot9

JTAG Technologies – ProVision Teststation: génération et exécution des tests – ProVision Flashstation: programmation flash – ProVision PLDstation: programmation FPGAs – ProVision Diagnostics: interprétation des résultats Outils à l’IPNO et CSNSM Juin 2012Journées Electroniques IN2P3 G.Perrot10

Interfaces JTAG Technologies Juin 2012Journées Electroniques IN2P3 G.Perrot11

LAPP: – Achat: 1 licence fixe Aster Testway (année 2000) 4600€ Goepel Cascon Galaxy Classic (année 2000) 21350€ Aster Quadview (année 2008) 6900€ – Maintenance (2012): Aster Testway 668€ Goepel Cascon Galaxy Classic 2850€ Aster Quadview 1272€ – Depuis cette année nous ne payons plus la maintenance, mais les logiciels restent opérationnels en l’état. (USB dongles) Coûts Juin 2012Journées Electroniques IN2P3 G.Perrot12 IPNO/CSNSM: – Achat: 5 licences flottantes JTAG Technologies (2008) 8300€ (1 seul tap contrôleur) Pour info: visualiseur (5 licences) 1900€ (2009) – Maintenance (2012): JTAG Technologies 2900€ (1 licence flottante génération et diagnostic, 3 licences flottantes exécution, sans visualiseur) – Plus de licence à l’IPNO. Les produits ne fonctionnent plus sans la maintenance.

Enquête BS au sein de l’IN2P Juin 2012Journées Electroniques IN2P3 G.Perrot13 Laboratoires IN2P3 (dans l'ordre des réponses) Utilisation moyens BS en protoype et/ou production Souhait accession outils BS Sous-traitance des tests BSUtilisateurs des outils BSPotentiels Utilisateurs des outils BSRemarques et Suggestions Développement tests Réalisation testsSoftwareHardwareProductionPrototypeGéneration des tests Réalisation des tests ProductionPrototypeGéneration des tests Réalisation des tests LAL (D.Breton)ParfoisDans certains casBS + Test à pointe.. NON Utilisation uniquement production. Sous- traitant efficaces. Préférence pour sous-traitant LPSC (C. Vescovi)NON.. IPNO (C.Oziol)OUI NON (sauf exception) OUI (Productions>20 cartes) JTAG Technologies OUI OUI (selon nb de cartes).. Mutualisation des outils pour réduction des couts de maintenance IMNC (L.Pinot)NON? (n'y a pas réfléchi).. mon service est généraliste, l'électronique n'est qu'une des facettes de notre activité. LMA (B.Lagrange)NON.. Je n'utilise pas ces moyens de tests et n'envisage pas pour l'instant de les utiliser GANIL (A.Boujrad)NONOUI (peut être dans l’avenir).. CENBG (JL.Pedroza)NONOUIça dépend..OUI.. OUI.. CSNSM (D.Linget)OUI OUI (fonction disponibilité) OUIJTAG Technologies OUINONOUI (fonction disponibilité) NON.... La convivialité des outils est également cruciale, surtout s'il s'agit d'utilisations occasionnelles. IPHC Microelec (C.Colledani)OUI (ASICs)Pas immmédiatement Pas concerné Produit MaisonPort Parallèle A évaluer OUIOUI (ASICs)Production: ASICs sur wafer avec probes cards IPNL (H.Mathez)NON.. LAPP (G.Perrot)OUI NONOUIAster Testway + Goepel Cascon GoepelOUiOUI OUI (proto, petite série) On développe les tests que l'on fournit au cableur pour grande série et que l'on execute pour les protoypes et petites séries. LPC Clermont (D.Lambert)NONOUI.. OUI.. LPC Caen (P.Laborie)NON.. Subatech (C.Renard)NONPeut-êtreNON.. OUI Utilistion BS interface mais pas de tests BS LLR (R.Cornat)NONOUI.. OUI Selon projetOUISolution commune Ethernet->JTAG pour config chassis avec composants scanxx et FPGAs serai la bienvenue. APC (C.Olivetto) CPPM (A.Calsas) LPNHE (P.Nayman) LUPM (M.Compin) LSM Modane (M.Zampaolo)

Actuellement 2 laboratoires à l’IN2P3 ont des moyens BS. Ce sont 2 produits différents. La maintenance de ces produits coûte cher! Leur taux d’utilisation est faible (moins d’une carte par an en moyenne). Maintenir l’expertise sur les logiciels demande des moyens. Un laboratoire seul n’en a plus les moyens. 6 laboratoires de l’IN2P3 sont intéressés pour un accès à ces outils. Mutualisation ? (1) Juin 2012Journées Electroniques IN2P3 G.Perrot14

Plusieurs solutions: – Ne rien changer et continuer ou non à payer. – Sous-traiter la génération et la réalisation des tests BS. – Acheter et maintenir un outil commun au sein de l’IN2P3: Quel outil et qui l’achète? Qui le gère? Où se trouve l’expertise? – Centre d’expertise chargé du développement des tests? – Expertise distribuée, chacun développe ses tests? Mutualisation ? (2) Juin 2012Journées Electroniques IN2P3 G.Perrot15