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Publié parFernand Perin Modifié depuis plus de 10 années
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Modélisation en spectrométrie délectrons pour lanalyse de surface Nicolas Pauly Université Libre de Bruxelles Faculté des sciences Appliquées Service de Métrologie Nucléaire
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Plan de lexposé Introduction Libre parcours moyen inélastique Excitations de surface Conclusions
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Plan de lexposé Introduction Libre parcours moyen inélastique Excitations de surface Conclusions
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Analyse de surface: définition Analyse de la composition de la couche superficielle dun solide
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Analyse de surface: applications Catalyse Métallurgie Corrosion Microélectronique Polymères …
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Analyse de surface: méthodes
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Analyse de surface: XPS E K = ħω-E B
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XPS: exemple
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Analyse de surface : AES K L1L1 L 2,3 } M EFEF VAC
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Analyse de surface : AES K L1L1 L 2,3 } M EFEF VAC électron incident
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Analyse de surface : AES K L1L1 L 2,3 } M EFEF VAC
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Analyse de surface : AES K L1L1 L 2,3 } M EFEF VAC
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Analyse de surface : AES K L1L1 L 2,3 } M EFEF VAC
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Analyse de surface : AES K L1L1 L 2,3 } M EFEF VAC
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Analyse de surface : AES K L1L1 L 2,3 } M EFEF VAC
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Analyse de surface : AES K L1L1 L 2,3 } M EFEF VAC
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Analyse de surface : AES K L1L1 L 2,3 } M EFEF VAC électron Auger E KL 1 L 2,3 = E K -E L 1 -E L 2,3
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AES: exemple Spectre Auger dune surface contaminée de molybdène (a) mode direct (b) mode différencié
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AES et XPS: analyse de surface? Pertes dénergie dans la matière caractérisées par le Libre Parcours Moyen Inélastique (LPMI): λ i (quelques nanomètres)
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AES et XPS: analyse de surface? Pertes dénergie dans la matière caractérisées par le Libre Parcours Moyen Inélastique (LPMI): λ i (quelques nanomètres) Les électrons détectés sans perte dénergie ont traversé une fine épaisseur du solide Analyse de surface (quelques nanomètres)
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AES et XPS: comparaison XPS AES identificationtrès bon sensibilitétrès bon vitesse d'analysebontrès bon résolution spatialepauvretrès bon endommagementbonmoyen quantificationtrès bonbon effets chimiquestrès bon???
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Quantification : AES Intensité du courant Auger I A pour une espèce atomique A: I 0 : courant incident σ A : section efficace dionisation E 0 : énergie initiale α: angle du faisceau incident r M : coefficient de backscattering E A : énergie de liaison γ: probabilité de désexcitation T: fonction de transmission D: efficacité de détection ΔΩ: angle solide N A : densité atomique θ: angle démission λ: LPM Inélastique
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Quantification : AES Intensité du courant Auger I A pour une espèce atomique A: I 0 : courant incident σ A : section efficace dionisation E 0 : énergie initiale α: angle du faisceau incident r M : coefficient de backscattering E A : énergie de liaison γ: probabilité de désexcitation T: fonction de transmission D: efficacité de détection ΔΩ: angle solide N A : densité atomique θ: angle démission λ: LPM Inélastique
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Plan de lexposé Introduction Libre parcours moyen inélastique Excitations de surface Conclusions
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Libre parcours moyen inélastique LPM Inélastique λ i : La moyenne des distances mesurées le long des trajectoires, que des particules dune énergie donnée parcourent entre des collisions inélastiques dans une substance. (définition ASTM) {{ -TPP-2M -EPES
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Modèle pour les métaux atomemétal électrons de coeur noyau électrons de valence électrons de coeur noyau électrons de conduction { ion Modèle randium-jellium
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Collisions: différentes interactions Interactions avec le jellium: Excitations individuelles délectrons Excitations collectives du gaz délectrons (plasmons de volume, ħω B, et de surface, ħω S ) Interactions avec les cœurs ioniques: Collisions ionisantes Collisions élastiques (λ e )
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Collisions: différentes interactions Interactions avec le jellium: Excitations individuelles délectrons Excitations collectives du gaz délectrons (plasmons de volume, ħω B, et de surface, ħω S ) Interactions avec les cœurs ioniques: Collisions ionisantes Collisions élastiques (λ e ) λ i :TPP-2M
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TPP-2M Méthode analytique utilisant des résultats expérimentaux Modèle de la fonction diélectrique pour des électrons libres Adaptation de la fonction diélectrique à des matériaux en dehors du modèle des électrons libres Utilisation de données optiques Formule simple pour le LPM inélastique
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Fonction diélectrique Charge extérieure: ρ ext (r,t) TF: ρ ext (q,ω) Champ de déplacement (TF): iqD(q,ω) = ρ ext (q,ω) Champ électrique (TF): ε 0 iqE(q,ω) = ρ ext (q,ω)+ ρ(q,ω) Système isotrope D(q,ω) = ε 0 ε(q,ω)E(q,ω) Potentiel scalaire total tel que: E(q,ω) = -iqφ(q,ω) Potentiel scalaire associé à ρ ext (q,ω): φ ext (q,ω) = (ε 0 q 2 ) -1 ρ ext (q,ω) φ(q,ω) = [1/ε(q,ω)]φ ext (q,ω) ε(q,ω) = ε 1 (q,ω)+iε 2 (q,ω) Fonction diélectrique de Lindhard pour des électrons libres: ε L (q,ω;r s )
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LPM inélastique avec TPP-2M (1) LPM inélastique pour un électron dénergie ħ 2 k 2 /(2m) incident sur une cible à électrons libres λ i (k;r s ) ~ { Im[-1/ε L (q,ω;r s )]dq/q 2 } - 1 Pour un matériau en dehors du modèle des électrons libres (métaux nobles, isolants,…): Im[-1/ε(q,ω)] = Im[-1/ε L (q,ω;r p s (r))]dr/Ω avec r p s (r), un pseudo paramètre de densité
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LPM inélastique avec TPP-2M (2) Approximation de Penn: Im[-1/ε(0,ω)] = Im[-1/ε opt (ω)] Changement de variable r ω p Im[-1/ε(q,ω)] = dω p G(ω p ) Im[-1/ε L (q,ω;ω p )] avec Im[-1/ε L (0,ω,ω p )] = π/2ω p δ(ω-ω p ) G(ω) = -2/(πω) Im[1/ε opt (ω)] Formule générale du LPM inélastique:
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LPM inélastique avec TPP-2M (2) Approximation de Penn: Im[-1/ε(0,ω)] = Im[-1/ε opt (ω)] Changement de variable r ω p Im[-1/ε(q,ω)] = dω p G(ω p ) Im[-1/ε L (q,ω;ω p )] avec Im[-1/ε L (0,ω,ω p )] = π/2ω p δ(ω-ω p ) G(ω) = -2/(πω) Im[1/ε opt (ω)] Formule générale du LPM inélastique:
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λ i avec TPP-2M: exemples LPM inélastiques pour de laluminium et de lor avec TPP-2M
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Méthode EPES Méthode expérimentale utilisant des simulations Monte Carlo Spectroscopie de rétrodiffusion élastique délectrons ou « Elastic Peak Electron Spectroscopy » (EPES) Simulation Monte Carlo Collisions élastiques
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Spectroscopie de rétrodiffusion élastique délectrons Mesure de lintensité I E du pic élastique dans le spectre en énergie pour des électrons incidents. Comparaison avec les résultats des simulations Monte Carlo I E = f(λ i )
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Simulation Monte Carlo: Définitions Simulation: Imitation dun processus réel. Une simulation implique la construction dune histoire artificielle du système. Simulation Monte Carlo (MTC): Méthode numérique utilisant des variables aléatoires pour résoudre des problèmes mathématiques.
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Simulation Monte Carlo: Ingrédients Détermination de la distance L entre 2 interactions: p(L) = [λ t (E)] -1 exp[-L/λ t (E)] L = -λ t (E)ln(β) avec λ t -1 =λ i 1 +λ e -1 Détermination du processus dinteraction: Σ k = 1/λ k ; P(k) = Σ k /[ Σ j ] P(k)<γ< P(k) Détermination des caractéristiques après interaction sections efficaces différentielles (dσ/dE, dσ/dΩ,…)
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Collisions élastiques Interaction de lélectron avec le potentiel entourant chaque cœur ionique Différentes database standards de potentiels fournies par le NIST: Thomas-Fermi-Dirac Dirac-Hartree-Fock …
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Collisions élastiques : déflexion angulaire Sections efficaces différentielles pour des électrons de 300 eV incident sur de laluminium et de lor
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Trajectoires en EPES
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MTC modifié Rendement de rétrodiffusion faible nécessité de considérer un très grand nombre de trajectoires MTC modifié: seules les collisions élastiques sont prises en compte sachant que la probabilité déchappement est exp(-L/λ i )
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λ i avec EPES: exemples Comparaison des LPM inélastiques obtenus par TPP-2M et par la méthode EPES pour de laluminium et de lor
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Différences entre TPP-2M et EPES Dans certains, différences entre TPP-2M et EPES pouvant aller jusquà 70%! Raison possible (en dehors des erreurs systématiques): Excitations de surface
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Plan de lexposé Introduction Libre parcours moyen inélastique Excitations de surface Conclusions
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Excitation de surface: principe Excitation de surface (ou plasmon de surface): Onde électromagnétique se propageant le long dune surface. cos(qx-ω S t)exp(-q|z|) z x ++ -- ++ -- ++
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Excitation de surface: EPES? e-e- Excitations de surface Excitations de volume Paradoxe: Excitations de surface négligées en analyse de surface
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Excitation de surface: SEP Paramètre dexcitation de surface (SEP), P s : Nombre moyen dexcitations quun électron subit lorsquil traverse une surface une fois. { - Détermination expérimentale (REELS) - QUEELS
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REELS Détermination par spectroscopie dénergie perdue pour des électrons réfléchis (REELS)
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SEP par REELS P s (θ i,E)+P s (θ o,E) = I 0B1S /I 0B0S P s (θ,E) = [a(E) 1/2 cosθ+1] -1 avec a, un paramètre dépendant du milieu
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SEP par REELS: résultat
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QUEELS: Principe QUEELS (QUantitative analysis of Electron Energy Losses at Surface): Description des pertes dénergie en REELS (et XPS ??). Modèle de réflexion en surface Modèle diélectrique Détermination de K = dΣ i /dE, la section efficace dinteraction inélastique différentielle en énergie
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Modèle de réflexion en surface (1) Calcul du potentiel induit par lélectron incident dans tout lespace (vide: ε=1, cible: ε(q,ω)) ε=1ε(q,ω)ε(q,ω) θiθi θoθo
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Modèle de réflexion en surface (2) Milieu semi-infini rapporté à 2 pseudo-milieux infinis (V et M) de fonctions diélectriques ε V =1 et ε M (q,ω) On considère alors lélectron et sa charge image dans chaque pseudo-milieu. ε=1 θiθi θoθo ε(q,ω)ε(q,ω) θoθo θiθi V θiθi θoθo ε(q,ω)ε(q,ω) M σVσV σMσM
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Modèle de fonction diélectrique Développement en oscillateurs de type Drude-Lindhard: avec A i, γ i et ω 0iq,lamplitude, la largeur et lénergie du i ème oscillateur; α i est un paramètre ajustable et la fonction pas θ caractérise le gap des semi-conducteurs et isolants.
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Section efficace différentielle K K = K V i +K M i +K M o +K V o
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Section efficace différentielle K: exemple
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QUEELS: détermination du SEP KSKS KBKB λ QUEELS = [ K dħω] -1 P s (E,θ i )+P s (E,θ o ) = K S / K dħω = λ QUEELS K S
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QUEELS: résultats pour le SEP
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Utilisation du SEP en EPES Ajout du SEP dans un résultat MTC modifié tel que la probabilité déchappement soit exp[-P s (E,θ i )]exp[-L/λ i ]exp[-P s (E,θ o )]: Faux Ajustement du SEP afin dobtenir un bon accord entre EPES et TPP-2M: Aberrant Incorporation du SEP dans une simulation MTC: Difficile car lépaisseur de la zone de surface est incertaine.
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Autre solution que le SEP? Détermination dun LPM inélastique variable λ i (z,θ) en tenant compte des excitations dans le vide Utilisation de QUEELS ??
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Plan de lexposé Introduction Libre parcours moyen inélastique Excitations de surface Conclusions
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Conclusion Volonté de standardisation en analyse de surface (XPS et AES) Détermination standard du LPM inélastique Prise en compte des excitations de surface
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