Compression de données de test : Réduction du nombre de broches et gain en temps de test Julien DALMASSO, Marie-Lise FLOTTES, Bruno ROUZEYRE {dalmasso,

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1 Compression de données de test : Réduction du nombre de broches et gain en temps de test Julien DALMASSO, Marie-Lise FLOTTES, Bruno ROUZEYRE {dalmasso, flottes, rouzeyre}@lirmm.fr CONTEXTE Technique de compression Résultats et comparaisons Compression Horizontale  Réduction du nombre de canaux testeur (ATE) pour transmettre les données de test au circuit  De nombreuses méthodes existent pour réaliser ce type de compression, mais elles présentent toutes un ou plusieurs de ces défauts:  La structure des chaînes de scan dépend du choix de la technique de décompression  La structure de décompression dépend des vecteurs de test  Les Techniques nécessitent des séquences de test spécifiquement créées  Elles sont basées sur de la simulation de fautes ou sur l'utilisation d'ATPG, ce qui rend ces méthodes incompatibles avec l'utilisation d'IP Pourquoi la compression ? Dans le cadre de circuits séquentiels dans lesquels on utilise la technique de DFT d’insertion de chaînes de scan  utilisation de chaînes de scan multiples pour réduire le temps de test  cela crée une augmentation du nombre de broches testeur nécessaire à la transmission des données d’où une augmentation du coût du test  Utilisation de techniques de compression horizontale des données de test pour réduire ce besoin en nombre de canaux testeur (ATE) Soit S i une tranche de la séquence de test et S i+1 la suivante La tranche compressée est notée Sci. Pour N chaînes de scan nous avons: S i = a N-1 …………a 0 S i+1 = b N-1 …………b 0 Pour M canaux testeur: Sc i = c M-1 ….. c 0 (avec les C i positionnés sur les canaux de données) Le décompresseur réalise donc l'opération: a N-1 ………………..…...…..….....…..…a 0 ( S i ) + 0... 0 c M-1 0... 0 c M-2 0…... 0 c 1 0... 0 c 0 ( Sc i ) _________________________________ b N-1 ………………………..……..………b 0 ( S i+1 ) Temps de Test Volume de données Compression Sérialisation 1slice Conclusion Une nouvelle méthode de compression des données de test a été présentée:  indépendante des séquences de test et des netlists des circuits.  Notre méthode a été comparée à la technique classique de sérialisation des données de test. Avec le même nombre de canaux testeurs, notre technique est toujours plus efficace en termes de réduction du temps de test et du volume de données. Exemple de séquence compressée Assignation: algorithme de recherche en profondeur Schéma général de compression-decompression horizontale Exemple de décompresseur sur puce Algorithme général de compression T : S 1 : x x 0 0 x 0 1 1 S 2 : x 1 0 x 1 x x 0 S 3 : 1 x x 0 x x x 1 S 4 : x x 1 1 x 1 x x S 5 : 1 1 x x x x 1 0 S 6 : x 0 x 0 1 x 1 x T' : Sc 1 : 1 1 0 0 1 0 1 1 Sc 2 : 1 1 Sc 3 : 1 1 Sc 4 : 1 0 Sc 5 : 0 1 Sc 6 : 1 0 T * : S 1 : 1 1 0 0 1 0 1 1 S 2 : 1 1 0 1 1 1 0 0 S 3 : 1 1 1 0 1 1 0 1 S 4 : 1 1 1 1 1 1 0 1 S 5 : 1 1 1 1 1 1 1 0 S 6 : 0 0 0 0 1 1 1 0 Initialisation I = 1 If S C i Initialisation des S i S i+1 = S i + S C i i++ NO YES S C i codées sur M bits shift mode add mode S i codées sur N bits Assignation des S C i END while i< #Slices Comparaison pour plusieurs Circuit ISCAS’89,pour N=32 chaînes de scan et M=8 canaux testeur Liste niveau portes Liste de fautes Génération vecteurs Compaction avec des X COMPRESSION Compaction + remplissage aléatoire SERIALISATION s5378 s9234 s13207 s15850 s35932 s38417 s38580 s5378 s9234 s13207s15850 s35932 s38417s38580