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FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Automatisation des mesures et tests Présenté par : F. Amoros-Routié

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1 FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Automatisation des mesures et tests Présenté par : F. Amoros-Routié Préparé par : A.Sadoun et F.Amoros-Routié n e x i o

2 FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Les problèmes à résoudre Pertes de temps : logistique et double saisies Essais non industrialisés Demande compétences spécifiques CEM pour faire un essai Essais et résultats isolés Non intégration moyens de surveillance Non standardisation des résultats, des rapports, …

3 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Pourquoi automatiser les mesures et les tests ? Performance : Optimiser au maximum la durée du test - Gain de temps Faire plus de test en moins de temps ou faire des tests plus poussés dans le même temps Procédures dessais complexes : difficiles ou lourdes sans automatisation : Calibration sur 16 positions, discrimination BE/BL, Maximisation : utilisation plateau-mat, …

4 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Pourquoi automatiser les mesures et les tests ? Qualité : Maitrise du processus, Traçabilité des mesures, des matériels, Limitation des erreurs manuelles de lopérateur, Contrôle des instruments en cours de mesures, Reproductibilité : Lautomatisation reproduit à lidentique la même procédure de test

5 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Pourquoi automatiser les mesures et les tests ? Démocratisation de lessai : Compétences techniques de lopérateur moins importantes que pour lessai manuel. Cest un moyen de test au service du produit Utilisation en libre service par concepteur Attention : possibilité de perte de compétences mesures de lutilisateur – trop de confiance dans automatisation et pas de diagnostic en cas de problème sur processus de test CEM. Temps de formation faible à lutilisation du logiciel pas à la CEM

6 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Pourquoi automatiser les mesures et les tests ? Traçabilité de lessai: Tout est enregistré et sauvegardé. Les mesures, les matériels, les corrections, les défauts constatés… Prise en compte des paramètres dacceptation clients dans les essais dimmunité. Gestion informatisée des résultats : Génération rapport automatique, Diffusion et partage des résultats, Lien avec dautres outils (simulation, métrologie, capitalisation, …)

7 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Quels tests automatisés ? Tous les essais radiofréquences : Les essais démission conduite et rayonnée. Les essais dimmunité conduite, rayonnée, magnétique et chambre à brassage de mode.

8 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Quels tests ne pas automatisés ? Essais non automatisables ou dont lautomatisation apporte peu par rapport à un essai manuel Décharges électrostatiques (EN ) Champ magnétique à 50/60 Hz (EN ) Champ magnétique impulsionnel (EN ) Champ magnétique oscillatoire (EN ) Ondes oscillatoires (EN ) …

9 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Quand automatiser ? Cas du spécialiste essais CEM Augmentation du nombre dessai, de moyens, de matériels, dutilisateurs : Homogénéisation et contrôle les méthodes Centralisation et partage des résultats, des essais, des paramètres Augmentation des exigences sur Niveau de détail rapport Diffusion des résultats

10 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Quand automatiser ? Cas du non spécialiste essais CEM Utilisation du moyen directement par les concepteurs des produits en études, pré-qualification, maintenance, … Ou un ou plusieurs de ceux du spécialiste

11 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Comment automatiser ? Développement sur mesure : interne ou externe (sous-traitance) en Labview, C++, VB, … Logiciel généraliste en test : demande une personnalisation/programmation Logiciel constructeur matériel : privilégié les matériels du constructeur Logiciel spécialisé en CEM

12 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Zoom sur avantages induits par lautomatisation La répétitivité des essais Les critères de surveillance des produits

13 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Répétitivité des tests : objectif Assurance de reproduire les tests et leur résultats dans quelque soit le laboratoire Limitation des tests en externe Comparer les résultats des tests suite à des modifications aide au choix de conception, validation dune modification, …

14 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Répétitivité des tests : bonnes pratiques Rédaction et application de procédures de tests très détaillées : Limitations des paramètres arbitraires : Positionnement du matériel en essai, cheminement des câbles, conditions climatiques, etc… Utilisation des mêmes matériels de tests : Il peut y avoir des disparités suivant la chaîne de tests utilisée (sensibilité dun récepteur de mesure, dimensions dune cage de Faraday, etc…). Automatisation des tests : Limitation des erreurs ou interprétations dues au facteur humain.

15 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Répétitivité des tests : les limites Erreurs dues au facteur humain Instabilité des appareils de tests Les conditions du test Exemple : Les essais de champ électromagnétique rayonné en champ libre ou les décharges électrostatiques si le degré dhumidité dans lair est important.

16 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Critères de Surveillance : Objectif Automatiser la surveillance de lEST : Banc de test de léquipement Synchroniser les actions du banc de test EST avec le séquencement de lessai CEM. Mémoriser les défauts détectés par le banc de test de l'EST avec le contexte CEM de test : Freq, Modulation, Niveau, Défaut détecté

17 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Surveillance dimage Acquisition dimages provenant dune caméra. Surveillance avec en cas de défaut: Émission dun signal sonore Enregistrement de limage où est apparu le défaut Interface avec systèmes externes (DDE, RS232, GPIB) Affichage en incrustation dinformations provenant du système(fréquence, niveau, modulation…) Message qualifiant le défaut

18 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Surveillance de voies analogiques

19 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Fonctions dun logiciel dautomatisation Le support des méthodes dessais La modularité et lhomogénéité Lergonomie : faire un essai a partir dun autre, limitation des clics et sélections. Louverture du pilotage – indépendance vis-à-vis des constructeurs de matériels. Le paramétrage des fonctions de transfert Louverture des méthodes : les normes évolues ou les clients ont des CDC spécifiques Lexportation des données Support technique : équipe dédiée – nombre de personnes

20 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Fonctions plus dun logiciel dautomatisation Mode investigation Louverture vers la stimulation du produit – la surveillance des critères de succès La génération des rapports dessai La gestion du parc matériel - La correction des mesures La gestion des résultats La gestion des campagnes dessais

21 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Bénéfices constatés : Organisation Intégration rapide des utilisateurs Aide à lorganisation du laboratoire : homogénéisation des méthodes Mise en place de Standard documentaire

22 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Bénéfices constatés : Qualité Contrôle des mesures en exécution, Sécurité, cohérence des données. Limitation des erreurs de manipulations. Réponse aux exigences de Traçabilité : Lien entre installation et résultats dessai, Enregistrement de toutes les mesures,

23 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Bénéfices constatés : Production Temps de préparation dun essai : configuration, choix matériels,... Sans : XX minutes à XX jours. Avec : < 2 minutes Temps de préparation dun essai lorsque que lon veut le réexécuter un mois plus tard. Sans : XX minutes à XX jours. Avec : immédiat.

24 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Bénéfices constatés : Production Temps passé au pilotage de linstallation Sans : un utilisateur en continu le temps de lessai. Avec : cest le système qui sen occupe, lutilisateur surveille et peut se concentrer sur léquipement. Délai pour fournir un rapport dessai Sans : XX jours à X mois. Avec : immédiat à X heures si lon désire personnaliser. Temps restant pour diagnostiquer les problèmes Sans : XX minutes. Avec : Tout le temps gagné par ailleurs.

25 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Lautomatisation : historique Années 80 : début de lautomatisation 1995 : début de lindustrialisation de lautomatisation Aujourdhui : lautomatisation de la génération du test CEM est mature

26 n e x i o FORUM DE LELECTRONIQUE 2005 CONFERENCES AFCEM Métrologie et instrumentation en CEM Lautomatisation : tendances pour demain Augmentation de lautomatisation des outils de stimulation et de surveillance couplés avec loutil de tests CEM Augmentation de lautomatisation de la génération des rapports et de leur niveau de détails Augmentation des essais : exemple délocalisation, … Couplage avec logiciels de métrologie et de simulation. Consultation des essais via Intranet Introduction de la modélisation des méthodes dessais dans les logiciels de simulation Passage de la gestion dun essai à la gestion de campagne dessais Industrialisation de la validation des logiciels dautomatisation dessais, Maitrise des modifications …


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